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供应CH-1-ST薄膜测厚仪,生产薄膜厚度测定仪

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型    号: CH-1-ST
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  • 产品描述

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◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm 
◎上测头曲率半径:15-50mm
◎测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
◎测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm
◎执行标准:GB6672-86 
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